中國第一臺大型X線斷層顱腦掃描裝置通過技術鑑定

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【歷史上的今天】1983年5月30日 (農曆四月十八),中國第一臺大型X線斷層顱腦掃描裝置通過技術鑑定。

中國第一臺大型X線斷層顱腦掃描裝置通過技術鑑定

1983年5月30日,上海醫療器械研究所等單位研製的中國第一臺大型X線斷層顱腦掃描裝置,經過246個病例的臨牀使用,證明效果良好,在上海通過技術鑑定。X線斷層顱腦掃描裝置是當代的一項重大科技成就,當時只有美國、日本等少數國家能生產,它能夠有效地診斷腦腫瘤、腦出血和腦栓塞等許多腦疾病。

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